Quando è utile:

  • Failure analysis :
    • morfologie di rottura, danneggiamento, corrosione e usura per l’identificazione di cause e meccanismo
    • indagine su difetti, cricche, depositi, inclusioni, ecc. per definirne natura e possibili cause
  • Studio della morfologia e topografia superficiale per la verifica di trattamenti e rivestimenti
  • Analisi di immagine e misura di lunghezze
    • con elevati ingrandimenti (nominalmente fino a oltre 100000X)
    • con risoluzione nominale fino a livello nanometrico
  • Analisi di campioni organici (polimeri, compositi, vernici, ecc.) senza metallizzazione con tecnologia a basso vuoto (LV)
  • Immagini con discriminazione di zone a diversa composizione tramite sonda ad elettroni retrodiffusi
  • Approfondimenti microstrutturali su sezioni
  • Analisi chimica puntuale tramite microanalisi con sonda EDS abbinata (vedi scheda dedicata).

Caratteristiche principali:

  • Immagini di superfici ad elevata risoluzione e alto ingrandimento
  • Analisi di materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e film
  • Studio della morfologia e della topografia di superfici
  • Indagini frattografiche
  • Può essere una tecnica distruttiva

NCS lab utilizza lo strumento JEOL JSM6390LV, dotato di sonde per elettroni secondari e retrodiffusi, operatività in alto e basso vuoto, comandi motorizzati per la movimentazione del campione in camera, sonda EDS.

Quando è utile:

  • Studio della topografia e della tessitura delle superfici:
    • ricostruzione 2D e 3D
    • area di scansione fino a 50x50 μm
  • Misure di rugosità fine:
    • con rilievi puntuali, lineari o mediati sulla superficie
    • profondità di campo di qualche micrometro
  • Caratterizzazione di difetti superficiali
  • Mappatura di fasi micro e sub-micro
  • Approfondimenti microstrutturali

Caratteristiche principali:

  • caratterizzazione, misurazione e imaging di superfici
  • risoluzione nanometrica
  • tecnica non distruttiva
  • applicabile a tutti i tipi di materiali

NCS Lab utilizza lo strumento Bruker NANOS N8, che garantisce performance analitiche di alto livello, grazie all’elevata risoluzione e al grado di automazione. Sia informazioni di tipo visivo che misure sono velocemente ottenibili con risoluzione nanometrica o subnanometrica, per la valutazione di prodotti o lo studio di difetti.

 

Quando è utile:

Permette l’identificazione di tutti i materiali a matrice organica:

  • polimeri ed elastomeri
  • vernici, adesivi e sigillanti
  • lubrificanti
  • solventi e detergenti
  • ancora: alimenti, cosmetici, farmaci…

e anche di alcuni a matrice inorganica, per i seguenti scopi:

  • controllo di materie prime (granuli, manufatti, frammenti, ecc.)
  • identificazione di materiali incogniti, anche in forma microscopica
  • analisi di rivestimenti organici (vernici) e film sottili
  • analisi del grado di pulizia/contaminazione superficiale
  • studio di difetti superficiali e failure analysis
  • caratterizzazione di fasi e inclusioni

Caratteristiche principali:

  • Analisi di materiali massivi, frammenti, fibre e film
  • Identificazione di contaminazioni o fasi
  • Risoluzione micrometrica
  • Tecnica non distruttiva o minimamente distruttiva
  • Applicabile a tutti i materiali organici e anche in parte inorganici

NCS lab utilizza lo strumento THERMO iN10, unico per la concezione del microscopio direttamente integrato all’interno dello spettrometro FT-IR (con guadagno nell’intensità del segnale e dunque nella risoluzione).

 

Caratteristiche principali:

  • Immagini di superfici ad elevata risoluzione e alto ingrandimento
  • Analisi di materiali massivi, frammenti, fibre, rivestimenti e film
  • Studio della morfologia e della topografia di superfici
  • Indagini frattografiche
  • Può essere una tecnica distruttiva

NCS Lab utilizza vari sturmenti per valutazione di prodotti o lo studio di difetti.